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高分辨二次離子質(zhì)譜儀tof-sims是非常靈敏的表面分析手段，憑借質(zhì)譜分析、二維成像分析、深度元素分析等功能，廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、細(xì)胞學(xué)、地質(zhì)礦物學(xué)、半導(dǎo)體、微電子...
SurfaceSeer I是一款高靈敏度、高質(zhì)量范圍、高分辨率的SIMS二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS），可以用于絕緣、導(dǎo)電表面的成像分析與化學(xué)成分分析。Su...
Kore SurfaceSeer I是一款高靈敏度的TOF-SIMS飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀，用于絕緣、導(dǎo)電表面的成像分析與化學(xué)成分分析。SurfaceSeer ...
Kore SurfaceSeer S在飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）系列中，是一款高性?xún)r(jià)比且經(jīng)久耐用的產(chǎn)品。它是研究樣品表面化學(xué)成分的理想選擇，適用...
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